[導讀] 日本東京大學柴田直哉準教授領導的研究小組，利用目前先進的掃描透射電子顯微鏡(STEM)和多分區(qū)檢測器，成功觀測到金原子內(nèi)部電場的分布情況——該電場分布在原子核與電子云之間不到0.1納米的區(qū)域內(nèi)。成果對觀察原子內(nèi)部精密結構極為重要，使未來直接觀察原子間如何結合成為可能。

　　日本東京大學柴田直哉準教授領導的研究小組，利用目前先進的掃描透射電子顯微鏡(STEM)和多分區(qū)檢測器，成功觀測到金原子內(nèi)部電場的分布情況——該電場分布在原子核與電子云之間不到0.1納米的區(qū)域內(nèi)。成果對觀察原子內(nèi)部精密結構極為重要，使未來直接觀察原子間如何結合成為可能。

　　掃描透射電子顯微鏡電子探針的大小決定對影像的分辨能力，目前先進鏡片技術的影像分辨力可達0.05納米以下。電子探針可以檢測出由原子產(chǎn)生的散射信號，因此可實現(xiàn)原子可視化。盡管到目前為止，電子顯微鏡可觀測到原子，但直接觀察原子內(nèi)部結構(原子核及電子云)卻極為困難。

　　研究小組使用分辨能力達0.05納米以下的掃描透射電子顯微鏡和他們開發(fā)的多分區(qū)檢測器，對一個金原子內(nèi)部進行觀測，結果發(fā)現(xiàn)，在帶正電荷的原子核與帶負電荷的電子云之間電場的影響下，電子束的行進角度和位置發(fā)生了變化，從而直接觀察到了原子內(nèi)部的電場分布，成功捕捉到了原子內(nèi)部電場從原子核向電子云方向涌動的情形。

　　目前，電子顯微鏡廣泛應用于物理化學、電子信息工程學、材料科學、生命科學等基礎研究領域;也在半導體設備、醫(yī)療、信息通信、能源等產(chǎn)業(yè)“大顯身手”。提高電子顯微鏡的性能，對納米技術研究尤為重要。該研究小組的下一步計劃是，挑戰(zhàn)直接觀察原子間如何結合這一難題。

　　該成果發(fā)表在近日出版的《自然·通訊》網(wǎng)絡版上。